霍尔效应测试仪

简要描述：霍尔效应测试仪简介：
1.系统功能：用于测量半导体材料的电阻率/电导率、流动性、散装/片状载体浓度、掺杂类型、霍尔系数、磁阻、垂直/水平阻力比的半导体高性能霍尔系统。模块化设计理念，允许轻松升级，该系统适用于各种材料，包括硅和化合物半导体和金属氧化物膜等。
2.该系统具有低电阻率和高电阻率测量功能，具有双重温度功能和一个可选的低温恒温器，可扩展该系统温度范围从90K到500K。

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厂商性质：经销商
更新时间：2024-03-28
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详细介绍

一、霍尔效应测试仪产品概述：

1.系统功能：用于测量半导体材料的电阻率/电导率、流动性、散装/片状载体浓度、掺杂类型、霍尔系数、磁阻、垂直/水平阻力比的半导体高性能霍尔系统。模块化设计理念，允许轻松升级，该系统适用于各种材料，包括硅和化合物半导体和金属氧化物膜等

2.该系统具有低电阻率和高电阻率测量功能，具有双重温度功能和一个可选的低温恒温器，可扩展该系统温度范围从90K到500K。

二、霍尔效应测试仪产品参数：

1. 方块电阻量程：10-4 Ω/sq ~ 106Ω/sq

2. 载流子浓度量程：106 ~ 1021 cm-3

3. 载流子迁移率量程：1 ~ 107 cm

4. 四个微调探针座，探针直接形成ohm接触，无需焊线或制作PCB板

5.最大样品测量直径：25mm

三、企业简介：

是集半导体仪器装备代理及技术服务的高新技术企业。

致力于提供半导体制程工艺装备、后道封装装备、、半导体光电测试仪表及相关仪器装备维护、保养、售后技术支持及实验室整体服务。

公司已授实用新型权利 29 项，软件著作权 14 项，是创新型中小企业、科技型中小企业、规模以上工业企业。

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