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傅里叶红外光谱仪 一、应用：用于半导体材料内部含量检测,同质外延厚度测量和其他应用，用于先进的半导体工厂，在硅生长和器件制造领域进行材料表征 二、技术参数： 1.光谱范围：远红外、中红外、近红外、可见光 2. 信噪比：55000:1 3.光谱分辨率（cm-1）：0.09电阻率: 1.0μ - 300.0k Ω.cm
更新时间：
2024-03-28
型号：
厂商性质：
经销商
浏览量：
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