超景深显微镜

简要描述：超景深显微镜概述：本套系统主要用于材料表面形貌的观察；平面或三维测量。可采用3D观测模式，对被测物形状，粗糙度，表面积等进行测量，可以做高度，宽度，横截面，角度，R值，表面积，体积，线粗糙度，面粗糙度等的测量分析。同时可以做材料断口、金相的观测,陶瓷，微流道，微加工，现代加工制造,MEMS研究，微纳制造等。

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厂商性质：经销商
更新时间：2024-03-28
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一、超景深显微镜产品介绍：

本套系统主要用于材料表面形貌的观察；平面或三维测量。可采用3D观测模式，对被测物形状，粗糙度，表面积等进行测量，可以做高度，宽度，横截面，角度，R值，表面积，体积，线粗糙度，面粗糙度等的测量分析。同时可以做材料断口、金相的观测,陶瓷，微流道，微加工，现代加工制造,MEMS研究，微纳制造等。

二、超景深显微镜产品参数：

1. 光源类型：≤404nm半导体激光

2. X/Y方向测量显示分辨率：1nm

3. Z向测量显示分辨率：0.5 nm

4. 面扫描速度：≥125Hz、线扫描速度：≥7900Hz

5. 角度特性：稳定测量倾角≥87.1度的斜面

6.XY载物台电动运行范围：≥100mm*100mm

三、企业简介：

是集半导体仪器装备代理及技术服务的高新技术企业。

致力于提供半导体制程工艺装备、后道封装装备、、半导体光电测试仪表及相关仪器装备维护、保养、售后技术支持及实验室整体服务。

公司已授实用新型权利 29 项，软件著作权 14 项，是创新型中小企业、科技型中小企业、规模以上工业企业。

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